Secretário da Ciência e Tecnologia preside Congresso Internacional de Metrologia

Abertura do evento acontece no Palácio dos Bandeirantes

seg, 04/12/2000 - 20h27 | Do Portal do Governo


O secretário da Ciência, Tecnologia e Desenvolvimento Social, José Aníbal, presidiu nesta segunda-feira, dia 4, no Palácio dos Bandeirantes, a abertura do Metrologia 2000 – Congresso Internacional de Instrumentos de Medição e Feira de Metrologia. O encontro reúne especialistas de diversos países. É parte de um esforço para integrar a metrologia brasileira no cenário internacional, acelerando a competitividade da indústria com práticas modernas e compatíveis com a economia globalizada.
O apoio do governo paulista ao Congresso visa aumentar a eficiência e a competitividade do parque produtivo paulista e nacional. Para o secretário José Aníbal, ‘São Paulo está ciente da importância que a metrologia desempenha na parceria necessária entre a ciência, a tecnologia e a preservação do meio ambiente para a alavancagem do moderno processo de desenvolvimento econômico, político e social de organizações e de nações. ‘
O Congresso abre espaço para um fórum sobre oportunidades de negócios industriais, uma feira de fabricantes de instrumentos de medição, além de seis importantes eventos em metrologia. Promovido pela Sociedade Brasileira de Metrologia com a colaboração do Inmetro, IPT, Senai, Fiesp e Abimaq, entre outras entidade. o evento prossegue até o dia 7, no Centro de Convenções do International Trade Mart, Vila Leopoldina, na Capital.
O Metrologia’2000 obedece a uma programação especial apresentada pela Secretaria da Ciência, Tecnologia e Desenvolvimento Econômico do Estado de São Paulo. Celebra os 500 anos da descoberta do Brasil, homenageia o IPT (Instituto de Pesquisas Tecnológicas) em seu 101º aniversário de criação e berço da metrologia brasileira, e também o centenário da teoria quântica de Max Planck, considerada a gênese da metrologia moderna, baseada em constantes físicas.
O evento contou com a presença do ministro da Ciência e Tecnologia, Ronaldo Motta Sardenberg, e do presidente do Conselho da Sociedade Brasileira de Metrologia, Ozires Silva, além de aproximadamente 400 congressistas.
‘Trata-se de um evento importante para o mundo dos negócios, da indústria e da inteligência em ciência e tecnologia. São Paulo transforma-se em vitrina da competência técnica em metrologia. É a grande oportunidade para fomentar o desenvolvimento dos atores responsáveis pelo progresso e o desenvolvimento das forças produtivas nacionais’, afirmou o secretário José Aníbal.