O Instituto de Pesos e Medidas (Ipem) reuniu na quarta-feira, 19, diretores e chefes dos escritórios regionais da Capital e do Interior, além de técnicos de outros estados, num seminário sobre técnicas de metrologia. Para falar sobre esse assunto, foi convidado o responsável pela área de Metrologia Legal do grupo suíço-americano Mettler Toledo, Marc Wollf.
Realizado no auditório da Secretaria da Justiça e da Defesa da Cidadania, o seminário foi aberto pelo Secretário da Justiça, Luiz Antonio Guimarães Marrey. Ele destacou a importância do evento para o aprendizado contínuo e para “buscar, na precisão técnica, melhores condições para o cumprimento do papel do Ipem e da Secretaria da Justiça na proteção dos direitos do consumidor e do cidadão”.
Marc Wollf falou sobre a evolução da metrologia (ciência da medição) ao longo dos anos. Ele explicou como funcionam os sistemas de metrologia e a legislação metrológica de diversos países. Também destacou os diversos organismos de padronização internacional, como a Ilac, entidade de reconhecimento internacional decalibração e ISO, rede de padrões de institutos nacionais de 161 países, incluindo o Brasil.
O especialista explicou que, na Suíça, somente os equipamentos utilizados na área de medicina e em outras especialidades passam pelo controle. Por exemplo, os taxímetros não passam por verificação, nem os hidrômetros – já que não há cobrança de taxa de água.
Na América do Sul, somente o Brasil e Argentina têm um sistema de metrologia, em que todos os instrumentos de medição utilizados nas transações comerciais precisam passar por verificações iniciais e subsequentes, a exemplo da fiscalização que o Ipem-SP faz em todo o Estado.
Esse curso também foi ministrado, na quinta-feira, 20, no Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) no Rio de Janeiro. Na próxima segunda-feira, 24, o representante da Mettler visitará as instalações do Centro Tecnológico do Ipem-SP, onde se localizam os laboratórios de massa, pressão, volume, e de química, entre outros.
Do Ipem
